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Revolutionizing probe card testing with automation

In der Halbleiterfertigung sind präzise, zuverlässige Tests entscheidend – lange bevor der Chip ins finale Gehäuse wandert. Eine Schlüsselkomponente dabei: die Probe Card. Sie bildet die Schnittstelle zwischen Wafer und Testsystem. Doch was passiert, wenn diese Schnittstelle selbst fehlerhaft ist?